Taktile Messung

Taktile Vermessung von Oberflächen


Bearbeitet Oberflächen unterliegen bestimmten Anforderungen bezüglich Profiltiefen, Rauheitszahlen, etc. Diese Kenngrößen und ihre statistische Bewertungsrahmen, messen wir taktil mit hochgenauen, freiabtastenden Systemen.

Dieses Verfahren ergänzt unsere, auf der Röntgen-CT Technologie basierende Metrologie, ist jedoch auch unabhängig davon einsetzbar.

Unsere Ausstattung an Systemen erlaubt auch den mobilen Einsatz, z.B. in der kundeneigenen Produktion.

Die Kenndaten dieser Verfahren sind:

  • Profilermittlung: Primär-, Welligkeits- und Rauhigkeitsprofile nach DIN/ISO/ASME/JIS oder MOTIF
  • Kenngrößen nach DIN/ISO:  Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Rv, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC, RSm, Rsk, Rdc, Rdq, Pa, Pt, PMr (3x), Wa, Wt, WSm, Wsk
  • Kenngrößen nach ASME: RpA, Rpm
  • Kenngrößen nach JIS: Ra, Rz, RzJIS, Sm, S
  • Kenngrößen nach MOTIF: R, Ar, Rx, W, Wx, Wte, CR, CL, CF NR, NCRx, NW

  • Darauf aufbauende Leistungen:

  • Prüfung von Oberflächen nach AQL Plänen
  • Serienprüfung mit statistischer Prozessgüte-Überwachung
  • Einzelprüfungen mit Führung einer statistischen Prüfhistorie
  • Pre-Shipment Inspections mit flankierenden Qualitätsprofilen
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